天宁电路板金属含量检测分析银含量检测

电子元件金属含量化验：针对各种进口电子元件，如IC片，CPU，钯粒，电子插头，镀金镀银件等，特别是闽台马来西亚中国香港元件，广分检测中心为您提供准确的贵金属含量化验服务。

各种电子元件中都含有大量的贵重金属，如金(Au)银(Ag)钯(Pd)铂(Pt)等，相对于其他产品而言，电子元件具有高的回收利用价值。

铜砖中的贵金属：金(Au),银(Ag),钯(Pd)含量分析，铜含量分析

检测元素

金(Au)、银(Ag)、铜(Cu)、铬(Cr)、磷(P)、碳(C)、铅(Pb)、钨(W)、锂(Li)、硫(S)、锌(Zn)、锡(Sn)、钠(Na)、钼(Mo)、钾(K)、铌(Nb)、钒(V)、砷(As)、钽(Ta)、镉(Cd)、锰(Mn)、锑(Sb)、锆(Zr)、钙(Ca)、钛(Ti)、铋(Bi)、铍(Be)、镁(Mg)、铝(Al)、汞(Hg)、铂(Pt)、镍(Ni)、铁(Fe)、氟(F)、钯(Pd)、钴(Co)、硅(Si)等,及其元素的氧化物如:二氧化硅(SiO2)、二氧化钛、三氧化钨(WO3)……

贵金属化学分析测试
依据GB/T 9288《金合金首饰  金含量的测定  灰吹法（火试金法）》、GB/T 17832《银合金首饰 银含量的测定 溴化钾容量法（电位滴定法）》、 GB/T 21198《贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法》、QB/T 28020《饰品 有害元素测定 X射线荧光光谱法》、QB/T 28480《饰品 有害元素**规定》、QB/T 19719《首饰 镍释放量测定光谱法》、QB/T 28021《饰品 有害元素测定 光谱法》等标准，对各种贵金属材料进行金、银、铂、钯等含量、有害元素含量、镍释放量等项目的检测分析。